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Alicona纳米级光学三坐标之表面粗糙度及刀具刃口检测应用【在线研讨会】

微米级三坐标测量仪是在同级别测量设备中,精度最 高的纯光学,微米级坐标测量设备。在使用该设备过程中,用户可以结合传统接触式坐标测量技术和光学表面测量技术二者的优势,通过启动一个传感器就能获得零部件尺寸,位置,形状和粗糙度数据。μCMM微米级三坐标测量仪可以提供几个不同三维测量数据之间相对的高精度几何数值,可以对大型零件的微小表面细节进行测量,同时也可以精准确定这些不同的测量部分之间的位置关系。在可测材料方面,该设备可以探测几乎所有常见的工业材料和复合材料表面光谱,如塑料,多晶金刚石 PCD, 碳纤维增强聚合物 CFRP, 陶瓷,铬,硅。 该设备还可以测量具有磨砂表面,或者抛光,或者反射性质的材料。同时,在设备操作方面,通过采用一键解决方案,加载自动化和符合人体工程学的控制元件,如专门设计的控制器,从而简化了设备操作。之所以该设备拥有如此高精度,快速测量的功能,是因为我们使用了直线驱动的空气轴承从而实现了无磨损使用。该技术也使 μCMM 微米级三坐标测量仪成为在生产环境中可以永久使用的理想测量设备。

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