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蔡司工业CT -ZEISS METROTOM 800 & 1500

蔡司工业CT-ZEISS METROTOM 800 & 1500 创新技术

蔡司工业CT ZEISS METROTOM 800/225kV HR

良好的影像品质

500 W 开放式微聚焦X光管与 1.5 k 检测器结合使用可提供良好的影像质量,快速的采集和更高的分辨率。直径为 150 mm的对象可以以 100 µm体素大小进行重建。

开放式的反射式X光管

由于反射式X光管的开放式结构,在正确维护的情况下可以实现无限的使用寿命。另外,所使用的灯管具有非常高的功率(500 W)。这可以实现快速扫描和低噪点影像,以及更密集材料的穿透

智慧设计

占地面积小,包括服务区域在内不到 8 平方米,紧凑的设计(机舱内包含控制单元)可在测量实验室的狭小空间内灵活安装。系统本身的占地面积小于 5.9 m²。

检测中大型零件

对于带有两个轴的定位系统,在 5.8 m² 系统区域内,适合该系统的零件最大高度为700 mm。

可靠的测量结果

对于带有两个轴的定位系统,在 5.8 m² 系统区域内,适合该系统的零件最大高度为700 mm。

蔡司工业CT ZEISS METROTOM 1500

更好的影像质量

以高分辨率可发现到甚至很小的细节。 直径为15cm的物体能以50μm的体素大小进行重建。

加快扫描速度

探测器的不同操作模式可以大大减少扫描时间,在可相比的体素尺寸下,最高可减少75%。

聪明的结构设计

占地面积仅为6.7平方米,并且舱门设计巧妙,可在测量实验室的狭小空间内灵活安装。

可检测更大型零件

为了在测量实验室中充分利用您的空间,我们在减小占地面积的同时扩展了测量体积。 在6.7m²的面积上测量和检查1500 mm高的零件,是市面上最好的系统/零件体积比。

可靠的量测结果

定位系统可确保零件在整个视野中的高度精确运动,从而确保MPESD为4.5 + L / 50 µm(VDI / VDE 2630表1.3)。

蔡司工业CT-ZEISS METROTOM 800 & 1500 特性

量测范围的延展

高度分次扫描的体积合并 Volume Merge(VM)

虚拟水平检测器扩展 Virtual Horizontal Detector(VHD)

第三代新款蔡司METROTOM 800&1500

面向未来的质量控制——今天

十二年来,蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描(CT)系统蔡司METROTOM 800& 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天,您可以使用面向未来的质量控制。

蔡司工业CT-ZEISS METROTOM 800 & 1500 应用

蔡司工业CTMETROTOM全系列

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