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3D量测|Alicona Tech News

Alicona 3D粗糙度检测
Ben Liu|应用工程师

过往粗糙度检测常是藉由轮廓仪对物体表面进行刮线检测,然而这种方式存在许多问题,Alicona则利用焦距变化(Focus Variation)的技术进行3D形面及粗糙度扫描,记录下表面上的三维信息,使其能更快速、更准确地检测表面粗糙度。

量测原理

快速且精确地纪录下物体的表面信息,是在3D检测非常重要的要素。
Alicona的变焦技术,利用彩色CCD Camera配合Z轴的位移,如同断层扫描般地在各个Z轴的位置撷取最高质量的影像信息,透过软件计算将影像转换为3D的点云数据,快速扫描并记录下样品表面信息,可同时检测表面的粗糙度及形面信息,并可重复检测已记录过的表面,提高量测的重复性。

Alicona原理示意图

Alicona 3D粗糙度量测特性

A、非接触式量测

以往的粗糙度检测多为使用轮廓仪在样品表面刮出一条线做2D的粗糙度量测。这在量测上往往会有许多限制或缺陷,如:

  • 探针的磨损
  • 检测长度的限制
  • 量测产生的刮痕
  • 无法量测有黏性的样品
  • 触针顶端尺寸限制
  • 量测重复性低

而使用Alicona光学式的非接触量测,不但可以避免以上的问题,还能利用光学式的原理进行大范围的量测,提供更详细及庞大的数据数据。

接触式量测缺陷示意图

B、面粗糙度检测

过往轮廓仪检测粗糙度是属于2D的线粗糙度,然而以单一的轮廓线去判断整个平面的粗糙度往往会有误判的情况。面粗糙检测是光学式3D粗糙度检测的特点,透过快速且大范围的扫瞄,记录下样品表面上的信息,并对整个表面进行粗糙度的检测分析,更准确地反映出样品表面粗糙度的实际情况。

面粗糙度及线粗糙度的比较

C、形面去除(Form removal)

在量测样品粗糙度时,遇到最大的问题莫过于粗糙度数据被样品形面的信息影响,如量测圆柱形样品或曲面变化较大的平面时。在Alicona的检测功能中可将表面上的形面数据去除,仅保留粗糙度信息,帮助用户更准确地检测行面上的粗糙度。

形面去除示意图

Alicona长期致力于微观检测,透过光学扫描的方式,取得庞大的数据,改善了以往轮廓仪取样不足的缺点,并能配合后端软件的运算,去除形面,保留粗糙度信息,克服轮廓仪在形面上数据失准的状况,使得Alicona在粗糙度检测的应用更加广泛。

作者资讯

马路科技

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