
向高端制造的高精度光学尺寸测量
自动化测量,化繁为简
Alicona µCMM NEO 搭配智能光学 3D 计量平台 MetMaX,可充分发挥其性能潜力。导入 CAD 模型,选择所需的 GD&T 或 PMI 特征,即可开始测量。MetMaX 自动生成智能测量策略,在不同用户、不同部件及生产环境中,提供快速、一致且可追溯的测量结
自第一代产品推出以来,Bruker Alicona 的 μCMM 一直是高精密制造领域中真正的高端测量系统。Stepper 始终代表着最高精度与卓越生产力,因此选择将 μCMM 应用于质量保障,对我们而言是顺理成章的决定。我们深感自豪,早在 2018 年便成为首家 μCMM 客户。八年后的今天,我们再次作为首批用户采用 μCMM NEO,延续这一成功合作——这也是双方在精密制造道路上的又一重要里程碑。
Michael Stepper, Fritz Stepper GmbH 首席执行官
高端制造领域的高端光学坐标测量解决方案 一览 Alicona µCMM NEO 的关键优势
以表面为核心的计量理念
每分钟获取更多测量信息
轮廓与表面,一次测量完成
从尺寸数据迈向对部件功能的深度理解
为微米级精度而生,
超越极限
专为测量最微小几何结构而设计
以卓越的非接触精度,满足高端精密部件的测量需求
一体化平台 · 一次测量完成
尺寸、位置、形状与粗糙度在同一平台、一次测量流程中完成评估。
替代多种传统测量系统,无需重复定位。
精度毫不妥协
五轴高精度系统实现卓越的尺寸与位置测量精度,
在整个测量体积范围内保持稳定可靠。
精度毫不妥协
五轴高精度系统实现卓越的尺寸与位置测量精度,
在整个测量体积范围内保持稳定可靠。
测量决定产品品质的关键要素-光学坐标测量机 Alicona µCMM NEO
技术规格
技术参数
| 测量原 | 无接触,光学,三维,基于全自动变焦技术,包含垂直聚焦测量技术 | |
| 测量像素 | 单次测量: X: 2160, Y: 2160, X x Y: 4.6 百万 多点测量:最高可达5亿次 | |
| 定位量 (X x Y x Z) | 310 mm x 310 mm x 310 mm = 29 791 000 mm³ | |
| 轴移动速度 | 最高 100 毫米/秒 | |
| 同轴光 | LED同轴照明(彩色),大功率,电子可控 | |
| 系统监控 | 8个温度传感器(精度:±0.1 K)、1个湿度传感器、内部电流和电压监测,包括长期数据记录,可检索 | |
| 三维精度10360-8 | EUni:Tr:ODS,MPE = (0.7 + L/600) μm (L in mm) 轴精度符合 ISO 10360-8 标准。 EUniZ:St:ODS,MPE = (0.15 + L/50) μm (L in mm) 适用于单次测量和分段高度测量。 |
被测对象
| 最大重量 | 最大承重30公斤;如需更大承重请咨询;5轴系统最大样品重量:4公斤 | |
| 最大尺寸 | 宽度:680 毫米,高度:375 毫米 | |
| 最大可测倾角 | Focus-Variation: 87° / Vertical Focus Probing: >90° (具体应用而定) |
物镜参数
| 目标 | 1900 WD 30 | 1500 WD23 | 1500 WD70 | 800 WD17 | 800 WD37 | 400 WD19 | 150 WD11 | 80 WD4 | |
| 工作距离 | mm | 30 | 130 | 69,4 | 17.5 | 37 | 19 | 11 | 4.5 |
| 单次测量所得的测量面积 (X,Y) | mm | 3.8 | 3.12 | 1.6 | 1.6 | 1.32 | 0.8 | 0.3 | 0.16 |
| (X x Y) | mm² | 14.56 | 9.73 | 9.73 | 2.43 | 2.43 | 1.61 | 0.1 | 0.02 |
| 测量点间距 | µm | 1.77 | 1.45 | 1.45 | 0.72 | 0.72 | 0.36 | 0.14 | 0.07 |
| 测量噪声 | nm | 30 | 90 | 70 | 4 | 25 | 2 | 1 | 1 |
| 垂直分辨率 | nm | 85 | 255 | 200 | 30 | 71 | 20 | 10 | 10 |