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新品发布 |马路科技蔡司OMNIA GC 220-180:大型部件检测灵活性与效率

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现代制造工艺日趋精密复杂,推动铸件尺寸向大型化、整体化不断演进。传统检测手段已难以满足灵活高效的现代化生产需求。蔡司延续BOSELLO系列产品的技术理念,推出新一代大型部件自动化X射线检测设备ZEISS OMNIA GC 220-180,专为应对未来制造挑战而设计,致力于为大型乃至超大型组件提供更先进、更可靠的检测方案。

马路科技工业质量解决方案商,是蔡司官方授权代理商,业务涵盖:蔡司三坐标测量机、工业CT X-RAY断层无损测量,光学三维3D扫描仪、工业显微镜等设备。

参数及报价请咨询马路科技顾问股份有限公司 / 马尔软件技术开发(上海)上海有限公司 ,助力全面解决客户面临质量挑战与痛点。

专为大型部件检测设计

ZEISS OMNIA GC专为汽车等行业大型铸件检测打造,搭载高品质X射线与精密工程系统,即便面对超大型部件,也能在效率、准确性与成像之间实现完美平衡。其智能设计实现复杂特征扫描全覆盖,在维持高准确性的同时大幅缩短检测时间。

单门或双门解决方案

适配多样化需求

ZEISS OMNIA GC提供高度灵活的配置方案,精准匹配不同产能需求。单门系统可无缝集成至现有生产线中,适用于中低产能连续任务的在线或线边检测场景。产能爬升时,可升级为高产能双门系统,通过多托盘并行操作,实现装卸与检测同步的快速在线自动化解决方案,助力制造商灵活配置资源,高效应对未来挑战。

多角度检测的笛卡尔

坐标轴设计

蔡司X射线检测系统通过高精度笛卡尔机械臂的平滑的线性运动实现部件关键区域的全方位成像,可精准完成倾斜、变焦及定位操作,确保系统能够触及复杂铸件中最具挑战性的检测区域。配备±60°检测倾角的X射线光束及最高15米/分钟的运动速度,ZEISS OMNIA GC可从任意角度快速、灵活且无碰撞地执行检测任务。

ADR(自动缺陷识别)

ZEISS OMNIA GC配备先进的ADR(自动缺陷识别)功能,可实现完全自动化的检测与缺陷评估,可根据ASTM标准对气孔、夹杂物或裂纹等缺陷进行自动检测与评估。

马路科技工业质量解决方案商,业务涵盖:3D扫描测量(光学3D测量仪、三坐标测量机,工业CT断层无损测量,Alicona粗糙度测量机);3D打印(材料包括:金属,塑胶,尼龙,碳纤维等);GF飞秒激光加工机床;数控机床,五轴加工软件hyperMILL;模流分析软件FLOW-3D(铸件,增材制造,水利,焊接等);逆向工程服务,30余年的行业经验,服务企业超过1万家,15个技术中心,业务拓展全球,提供一体化、落地化的服务!

关于马路科技

马路科技成立于1996年,从逆向工程与快速原型应用整合,今日为华人市场上最专业的3D列印与3D扫描专家于各种产业。

马路科技陆续引进了工业设计(ID)、工业辅助检测(CAV)、雷射加工机设备、公仔设计服务、工程服务等的关键知识与技术。

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