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用于质量保证的三维 X 射线测量技术

工业CT检测-ZEISS METROTOM 

基于蔡司METROTOM 的工业计算机断层扫描(CT)
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次 X 射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精确性的高要求。

ZEISS METROTOM 创新技术

第三代新款蔡司METROTOM 1500-面向未来的质量控制——今天

蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描(CT)系统蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天,您可以使用面向未来的质量控制。

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第三代计算机断层扫描(CT)系统蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天,您可以使用面向未来的质量控制。

ZEISS METROTOM 特性

蔡司METROTOM 1500(第2代与第3代)中铝制部件的图像比较。由于体素尺寸较小,新的3K检测器可以以更高分辨率清晰显示更小的细节。

看得更多。

在第三代系统中,新的3k检测器可生成更高分辨率的3D体数据集,即更多体素可以检测到更小的缺陷。

扫描更快。

通过检测器的不同操作模式,扫描时间可减少多达75%,同时获得与2k检测器相当的体素尺寸。

测量与检验整体部件

蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描系统,用于测量和检查由塑料或轻金属制成的完整部件。而在利用传统测量机测量时,此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。

轻松且精准地进行多样化特征检测

利用蔡司METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精确,且具可追溯性。和接触式测量方法不同,蔡司METROTOM 获取海量测量点时,时间显著缩短。

直观简易的软件操作

仅需通过短时间的蔡司METROTOM OS 软件培训课程,操作人员即可对零件进行扫描,透视零件的内部。通过蔡司CALYPSO和NEO软件,您可以评估CT数据,通过蔡司PiWeb,它们可以在一个测量报告中快速合并。

蔡司METROTOM系列 型号

METROTOM 800 130 kV

高精准度

部件尺寸

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精度

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时间

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面积

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密度

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分辨率

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ZEISS METROTOM 6 scout

快速采集,高密度的部件

部件尺寸

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精度

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时间

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面积

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密度

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分辨率

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ZEISS METROTOM800 225kV HR快速获取,高密度的部件和细节描述

部件尺寸

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精度

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时间

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面积

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密度

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分辨率

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ZEISS METROTOM 1500即使对于非常大的部件也能实现更多的灵活

部件尺寸

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精度

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分辨率

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