ARAMIS - DIC 三维光学应变量测




ARAMIS - 三维光学应变量测

使用ARAMIS 系统,有助于您深入了解材料和零件的力学行为和性能,特别适用于测量瞬时和局部应变。

ARAMIS 系统采用非接触测量方式,且不受材料影响,适用于各种材料的静态或动态实验,获取完整的力学性能参数,其中包括:

  • 三维型面坐标
  • 三维位移和变形速度
  • 表面应变值(主应变和次应变、厚度减薄)
  • 应变率

ARAMIS – 为材料测试提供理想的解决方案

  • 测定材料特性(R 值和N 值、FLC 曲线、杨氏模量等)
  • 零件强度分析(碰撞试验、振动分析、耐久性研究等)
  • 验证有限元分析

ARAMIS 系统的独特之处在于它能够获得全场的三维型面、位移和应变结果,而传统的测量方法则需要大量的测量工具,比如应变片、LVDT(位移传感器)、引伸计等。

即便是相同的系统设置,还适用于多种应用,并且可以轻鬆地集成到现有测试环境中。

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CAD 数据的集成

ARAMIS 系统配有CAD 数据导入接口,用于计算三维坐标转换和三维形状偏差。

该接口可处理下列格式:

  • 原始格式:Catia v4/v5、UG、ProE
  • 常规格式:IGES、STL、VDA、STEP

实时数据处理

利用ARAMIS 软件可对试样表面多个测量位置进行实时测量。

测量数据实时传递给试验设备、数据采集系统或数据处理软件(如LabView、DIAdem、MSExcel 等),用于:

  • 控制试验设备
  • 长周期寿命失效测试,所需存储空间极小
  • 震动分析
  • 三维视频引伸计

有限元仿真计算结果验证

近年来,作为复杂的过程链中的一环,光学测量系统已逐渐成为工业生产过程中的重要工具。同时,应用各种模拟分析,可显着改进产品质量,优化开发和生产时间。

ARAMIS 系统完全支持有限元仿真计算结果的全场验证。使用ARAMIS 系统测定材料性能参数,有助于分析评估及改善现有的材料模型。通过导入有限元仿真计算结果数据集,以便将有限元仿真计算的应变结果与零件的应变分佈进行全场对比分析。

从而可以优化有限元仿真,使其更加可靠。

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集完整工作流程于一身的应用软件

利用系统集成的ARAMIS应用软件,可以实施完成包括测量、评估和编制测试报告在内的整套工作。

另一方面,硬件功能强大,可更有效地捕捉图像及评估测量区域,且精度更高。

请通过软件网页了解ARAMIS软件的更多强大功能

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技术参数

系统配置 2M 5M
采样频率(Hz) ~ 15 (29) ~ 15 (29)
相机分辨率(像素) 1624 x 1236 2448 x 2050
测量范围 mm² ~ > m² mm² ~ > m²
应变测量范围(%) 0.005 ~
> 2000
0.005 ~
> 2000
应变测量精度(%) ~ 0.005 ~ 0.005
循环缓存
图像存储 使用计算器内存 使用计算器内存
安装(无须工具)
整体式线缆管道
激光定位器(个) 1 或者 3 1 或者 3
照明 集成 集成
高性能计算器
便携式电脑
控制设备 测量头控制器 测量头控制器
操作温度 5-40°C
样品温度 -100°C ~ +1500°C(标准)

 

系统配置 4M 12M HS
采样频率(Hz) ~ 168 (1334) ~ 58 (464) ~ 500 (4000)
相机分辨率(像素) 2400 x 1728 4000 x 3000 1280 x 1024
测量范围 mm² ~ > m² mm² ~ > m² mm² ~ > m²
应变测量范围(%) 0.005 ~
> 2000
0.005 ~
> 2000
0.005 ~
> 2000
应变测量精度(%) ~ 0.005 ~ 0.005 ~ 0.005
循环缓存
图像存储 使用计算器内存 使用计算器内存 使用计算器内存
安装(无须工具)
整体式线缆管道
激光定位器(个) 1 或者 3 1 或者 3 1 或者 3
照明 集成 集成 集成
高性能计算器
便携式电脑
控制设备 测量头控制器 测量头控制器 测量头控制器
操作温度 5-40°C 5-40°C 5-40°C
样品温度 -100°C ~ +1500°C(标准)

其他配置

根据需求,提供专业高速配置,采集频率高达5000Hz(1000000Hz),相机分辨率高达1024 x 1024像素。

应用提示

建议瞭解更多关于 ARAMIS 测量系统的实际应用。
查看所有 ARAMIS 系统应用提示


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